半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种-上海自考网

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2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分试卷年份：2013 是否有答案：有作答时间： 150分钟

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试题序号

18

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【】12-329

A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验

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质量管理中最常用的随机变量的分布是【】10-228

A、均匀分布
B、正态分布
C、二项分布
D、泊松分布

在供应商关系管理中，联合质量计划在管理方面的内容是【】9-215

A、进行价值分析
B、生产
C、检验与测试
D、建立明确的责任制

企业经营的逻辑起点是【】3-60

A、识别和细分顾客
B、到工商部门登记注册
C、产品的研发
D、产品的销售

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