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上海自考网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【 】12-329

2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分     试卷年份：2013    是否有答案：有    作答时间： 150分钟   

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试题序号

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【 】12-329

  • A、可靠性测定试验
  • B、可靠性鉴定试验
  • C、可靠性验收实验
  • D、环境应力筛选试验
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数据和信息的可靠性是指【 】8-197

  • A、应保证数据和信息的真实性
  • B、所需要的数据和信息应全面完整
  • C、应保证数据和信息不被损坏
  • D、在数据和信息处理过程中应确保没有危险

与传统采购观点相比，现代战略采购决策的着眼点是【 】9-209

  • A、合作的伙伴关系
  • B、总的占有成本
  • C、价格
  • D、符合规格

内部顾客3-62

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