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上海自考网> 试题题库列表页> 半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【 】12-329

2013年7月质量管理试卷真题

卷面总分：100分     试卷年份：2013    是否有答案：有    作答时间： 150分钟   

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试题序号

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于【 】12-329

  • A、可靠性测定试验
  • B、可靠性鉴定试验
  • C、可靠性验收实验
  • D、环境应力筛选试验
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产品质量的最终裁判者是【 】2-45

  • A、产品质量监督部门
  • B、公司领导
  • C、产品设计人员
  • D、顾客

日常运营绩效信息如产量、生产周期、生产率等，属于绩效测量指标的【 】8-202

  • A、执行层面
  • B、过程层面
  • C、组织层面
  • D、计划层面

组织的社会责任4-95

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